Monitoring のバックアップ(No.7)

バックアップ一覧
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- 1 (2011-11-02 (水) 21:40:00)
- 2 (2011-11-19 (土) 20:55:58)
- 3 (2011-11-20 (日) 09:47:27)
- 4 (2011-11-20 (日) 18:52:47)
- 5 (2011-11-22 (火) 22:05:10)
- 6 (2011-12-01 (木) 18:59:12)
- 7 (2011-12-01 (木) 19:06:38)
- 8 (2011-12-01 (木) 23:22:39)
- 9 (2012-01-05 (木) 23:30:12)
- 10 (2012-01-18 (水) 08:56:52)

SCT_Ntupleのページ †

https://twiki.cern.ch/twiki/bin/viewauth/Atlas/SctNtuple

groupDiskからコピーしてヘッダーを取得 †

2011年アトラス取得データは5.2fb-1となった。2010年の100倍。gridでNTUPL_SCTを探しても見つからない。CERNテープアーカイブ内にはある。最新は８月４日のものだった。lxplus407のtmpにコピー(express)して10kevent解析した、裏面にhitがないのをその面にとってquietイベントとしてNoise Occupancyをかく面ごとにとってみた。比較のために2010年のファイル(min baias)ものせる。この時は層の依存性なしに5e-5/3だったが、2011年８月には内層10e-5/3から外層30e-5/3まで変化が見える。3でわらないとオンラインの値と合わない。前後のバンチ衝突を記録しているため。

リーク電流が増加するなど、表面損傷の影響が見える。これは主に絶縁層への電荷蓄積との効果と考えられる。2011年までのフルーエンスはEndcap Innerで1e12p/cm2程度らしい。PINダイオードの空乏化電圧でフルーエンスは評価される。これはバルクでアクセプター濃度が増えるため。PINダイオードのドナー濃度が薄いと影響を受けやすい。これはバルク損傷と呼ばれる。

TFile *file = TFile::Open("InDetTrackD3PD_v002.root")
TTree *ttree=(TTree*)file->Get("InDetTrackTree")
ttree->MakeClass("InDetTrackTree")

edit InDetTrackTree.h
#include <cstdlib> //追加　absでエラー
using namespace std; //追加する

作成したrootファイルは以下のもの。TBrowserで一次元ヒストはみれる。hRとなっているのは比メソッド。裏面がならない時のNoiseはhとなっているもの。マップを見たい時は

ln -s beamMaskdata11.root beamMaskOld.root
root -l
.x OccuMapEndcapA.C

beamMaskdata11.root

beamMaskdata10.root

OccuMapEndcapA.C